Мера настроечная, TS-2

Мера настроечная, TS-2 для импедансного контроля

Предназначена для имитации дефектов типа непроклей, расслоение и тп при настройках дефектоскопа композиционных материалов "ДАМИ-С09":

  • Материал -органическое стекло; 
  • Общая толщина (мм) -8; 
  • Глубина залегания дефектов (мм) - 1.6; 
  • Площадь дефектов (мм2) 49/144/400; 
  • Конфигурация дефектов - Плоскодонное сверление; 
  • Рекомендуемые преобразователи- ПАДИ-8-02, УДП-10-02Е